Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - As the complexity and the density of VLSI chips increase with shrinking design rules, the evaluation of long-term reliability of MOS VLSI circuits is becoming an important problem. The assessment and improvement of reliability on the circuit level should be based on both the failure mode analysis and the basic understanding of the physical failure mechanisms observed in integrated circuits. Hot-carrier induced degrada tion of MOS transistor characteristics is one of the primary mechanisms affecting the long-term reliability of MOS VLSI circuits. It is likely to become even more important in future generation chips, since the down ward scaling of transistor dimensions without proportional scaling of the operating voltage aggravates this problem. A thorough understanding of the physical mechanisms leading to hot-carrier related degradation of MOS transistors is a prerequisite for accurate circuit reliability evaluation. It is also being recognized that important reliability concerns other than the post-manufacture reliability qualification need to be addressed rigorously early in the design phase. The development and use of accurate reliability simulation tools are therefore crucial for early assessment and improvement of circuit reliability : Once the long-term reliability of the circuit is estimated through simulation, the results can be compared with predetermined reliability specifications or limits. If the predicted reliability does not satisfy the requirements, appropriate design modifications may be carried out to improve the resistance of the devices to degradation.

Bestandsnummer des Verk�ufers 9781461364290

Verk�ufer kontaktieren

Diesen Artikel melden

Bibliografische Details

Titel

Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits

Verlag

Springer US, Springer US

Erscheinungsjahr

2012

Sprache

Englisch

ISBN-10

1461364299

ISBN-13

9781461364290

Einband

Taschenbuch

Zustand

Neu

Verk�uferkataloge

�ber diesen Titel

Inhaltsangabe

As the complexity and the density of VLSI chips increase with shrinking design rules, the evaluation of long-term reliability of MOS VLSI circuits is becoming an important problem. The assessment and improvement of reliability on the circuit level should be based on both the failure mode analysis and the basic understanding of the physical failure mechanisms observed in integrated circuits. Hot-carrier induced degrada� tion of MOS transistor characteristics is one of the primary mechanisms affecting the long-term reliability of MOS VLSI circuits. It is likely to become even more important in future generation chips, since the down� ward scaling of transistor dimensions without proportional scaling of the operating voltage aggravates this problem. A thorough understanding of the physical mechanisms leading to hot-carrier related degradation of MOS transistors is a prerequisite for accurate circuit reliability evaluation. It is also being recognized that important reliability concerns other than the post-manufacture reliability qualification need to be addressed rigorously early in the design phase. The development and use of accurate reliability simulation tools are therefore crucial for early assessment and improvement of circuit reliability : Once the long-term reliability of the circuit is estimated through simulation, the results can be compared with predetermined reliability specifications or limits. If the predicted reliability does not satisfy the requirements, appropriate design modifications may be carried out to improve the resistance of the devices to degradation.

Rese�a del editor

��ber diesen Titel� kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.

Anbieterinformationen

Das Unternehmen AHA-BUCH GmbH: Seit der Gr�ndung von AHA-BUCH im Juli 2005 ist unser Hauptziel, zufriedenen Kunden so schnell und so preisg�nstig wie m�glich ihren B�cherwunsch zu erf�llen. Unsere Firma besch�ftigt 16 Mitarbeiter, die nur ein Ziel kennen: den Kunden und seine W�nsche! Auf �ber 3700 m2 Fl�che haben wir �ber 100.000 B�cher, Modernes Antiquariat und Spiele auf Lager.

Zur Homepage des Verk�ufers

Unternehmensdaten des Verk�ufers

AHA-BUCH GmbH
Garlebsen 48, Einbeck, 37574, Germany

Gesch�ftsbedingungen und Versandinformationen

Verkaufsbedingungen

Allgemeine Gesch�ftsbedingungen und Kundeninformationen / Datenschutzerkl�rung

I. Allgemeine Gesch�ftsbedingungen

� 1 Grundlegende Bestimmungen

(1) Die nachstehenden Gesch�ftsbedingungen gelten f�r alle Vertr�ge, die Sie mit uns als Anbieter (AHA-BUCH GmbH) �ber die Internetplattformen AbeBooks und/oder ZVAB schlie�en. Soweit nicht anders vereinbart, wird der Einbeziehung gegebenenfalls von Ihnen verwendeter eigener Bedingungen widersprochen.

(2) Verbraucher im Sinne der nachstehenden Regelungen...

Mehr Information

Widerrufsbelehrung

Versandbedingungen

Wir liefern Lagerartikel innerhalb von 24 Stunden nach Erhalt der Bestellung aus.
Barsortimentsartikel, die wir �ber Nacht geliefert bekommen, am darauffolgenden Werktag.
Unser Ziel ist es Ihnen die Artikel in der �konomischten und effizientesten Weise zu senden.

Versandkosten innerhalb von Deutschland

Versandkosten innerhalb von Deutschland
Bestellmenge	1 bis 2�Werktage	1 bis 2�Werktage
Erster Artikel	EUR 0.00	EUR 4.50

Die Versandzeiten werden von den Verk�uferinnen und Verk�ufern festgelegt. Sie variieren je nach Versanddienstleister und Standort. Sendungen, die den Zoll passieren, k�nnen Verz�gerungen unterliegen. Eventuell anfallende Abgaben oder Geb�hren sind von der K�uferin bzw. dem K�ufer zu tragen. Die Verk�uferin bzw. der Verk�ufer kann Sie bez�glich zus�tzlicher Versandkosten kontaktieren, um einen m�glichen Anstieg der Versandkosten f�r Ihre Artikel auszugleichen.

Impressum & Info zum Verk�ufer