Titel: Electron and Ion Microscopy and Microanalysis: Principles and Applications, Second Edition,: 29 (Optical Science and Engineering)
Verlag: CRC Press
Erscheinungsjahr: 2019
Sprache: Englisch
ISBN-10: 0367402947
ISBN-13: 9780367402945
Einband: Softcover
Auflage: 2. Auflage
Zustand: New

�ber diesen Titel

Inhaltsangabe

The publication date of the first edition is not stated, but the new edition is apparently considerably revised and expanded. It was written to serve as a multi-purpose text at the senior or graduate level and as a reference for the practicing scientist or engineer. Readers should have a math backgr

�ber die Autorin bzw. den Autor

Lawrence E. Murr

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