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Electron and Ion Microscopy and Microanalysis: Principles and Applications, Second Edition, (Optical Science and Engineering) - Softcover

Buch 77 von 98: Optical Science and Engineering
 
9780367402945: Electron and Ion Microscopy and Microanalysis: Principles and Applications, Second Edition, (Optical Science and Engineering)
Softcover
ISBN 10: 0367402947 ISBN 13: 9780367402945
Verlag: CRC Press, 2019

Inhaltsangabe

The publication date of the first edition is not stated, but the new edition is apparently considerably revised and expanded. It was written to serve as a multi-purpose text at the senior or graduate level and as a reference for the practicing scientist or engineer. Readers should have a math backgr

Die Inhaltsangabe kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.

Über die Autorin bzw. den Autor

Lawrence E. Murr

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The publication date of the first edition is not stated, but the new edition is apparently considerably revised and expanded. It was written to serve as a multi-purpose text at the senior or graduate level and as a reference for the practicing scientist or engineer. Readers should have a math backgr

„Über diesen Titel“ kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.

Verlag
CRC Press
Erscheinungsdatum
2019
Sprache
Englisch
ISBN 10 
0367402947
ISBN 13 
9780367402945
Einband
Taschenbuch
Auflage
2
Anzahl der Seiten
856
Herausgeber
Murr Lawrence E.
Kontakt zum Hersteller
preigu GmbH & Co. KG
mail@preigu.de

Lengericher Landstr. 19
Osnabrück
Niedersachsen
49078
Deutschland