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Electron and Ion Microscopy and Microanalysis: Principles and Applications, Second Edition,: 29 (Optical Science and Engineering) - Softcover
Inhaltsangabe
The publication date of the first edition is not stated, but the new edition is apparently considerably revised and expanded. It was written to serve as a multi-purpose text at the senior or graduate level and as a reference for the practicing scientist or engineer. Readers should have a math backgr
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Lawrence E. Murr
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Electron and Ion Microscopy and Microanalysis: Principles and Applications, Second Edition,: 29 (Optical Science and Engineering)
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Electron and ion microscopy and microanalysis. Principles and applications.
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Softcover. Ehem. Bibliotheksexemplar mit Signatur und Stempel. GUTER Zustand, ein paar Gebrauchsspuren. Ex-library with stamp and library-signature. GOOD condition, some traces of use. X-10778 9780367402945 Sprache: Deutsch Gewicht in Gramm: 2100. Artikel-Nr. 2390712
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Electron and Ion Microscopy and Microanalysis: Principles and Applications, Second Edition, (Optical Science and Engineering)
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Electron and Ion Microscopy and Microanalysis: Principles and Applications
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Paperback. Zustand: Brand New. 2nd new edition. 856 pages. 10.00x7.01x1.77 inches. In Stock. Artikel-Nr. x-0367402947
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