Digital Hardware Testing: Transistor-Level Fault Modeling and Testing

Sprache: Englisch

Verlag: ARTECH HOUSE INC, 1992

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InhaltsverzeichnisIntroduction to digital IC testing faults in digital circuits bridging faults in random logic open faults in random logic text generation and fault simulation problems testing of structured designs (programmable l.

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Titel
Digital Hardware Testing: Transistor-Level Fault Modeling and Testing
Autor
Rajsuman, Rochit
Verlag
ARTECH HOUSE INC
Erscheinungsjahr
1992
Zustand
New
Einband
Gebunden
Sprache
Englisch
ISBN-10
0890065802
ISBN-13
9780890065808
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