Digital Hardware Testing: Transistor-Level Fault Modeling and Testing (Artech House Telecommunications Library Series) - Hardcover
Inhaltsangabe
Digital Hardware Testing presents realistic transistor-level fault models and testing methods for all types of circuits. The discussion details design-for-testability and built-in self-test methods, with coverage of boundary scan and emerging technologies such as partial scan, cross check, and circular self-test-path.
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Digital Hardware Testing: Transistor-Level Fault Modeling and Testing
Verlag:
Artech House Publishers, 1992
ISBN 10: 0890065802
ISBN 13: 9780890065808
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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 340 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Digital Hardware Testing presents realistic transistor-level fault models and testing methods for all types of circuits. The discussion details design-for-testability and built-in self-test methods, with coverage of boundary scan and emerging technologies such as partial scan, cross check, and circular self-test-path. Artikel-Nr. 2546002/202
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Digital Hardware Testing: Transistor-Level Fault Modeling and Testing (Artech House Telecommunications Library)
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Digital Hardware Testing: Transistor-Level Fault Modeling and Testing
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Zustand: New. InhaltsverzeichnisIntroduction to digital IC testing faults in digital circuits bridging faults in random logic open faults in random logic text generation and fault simulation problems testing of structured designs (programmable l. Artikel-Nr. 898961687
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Digital Hardware Testing: Transistor-Level Fault Modeling and Testing
Verlag:
Artech House Publishers Dez 1992, 1992
ISBN 10: 0890065802
ISBN 13: 9780890065808
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