Materials, Processes, and Reliability for Advanced Interconnects for Micro- And Nanoelectronics 2011: Volume 1335: Symposium Held April 25-29, 2011, ... Symposium Proceedings, 1335, Band 1335) - Hardcover

9781605113128: Materials, Processes, and Reliability for Advanced Interconnects for Micro- And Nanoelectronics 2011: Volume 1335: Symposium Held April 25-29, 2011, ... Symposium Proceedings, 1335, Band 1335)

Hardcover

ISBN 10: 1605113123 ISBN 13: 9781605113128

Verlag: CAMBRIDGE, 2011

This volume includes papers from 'Materials, Processes, and Reliability for Advanced Interconnects for Micro- and Nanoelectronics' symposium, 2011 MRS Spring Meeting.

Die Inhaltsangabe kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.

Verlag: CAMBRIDGE
Erscheinungsdatum: 2011
Sprache: Englisch
ISBN 10: 1605113123
ISBN 13: 9781605113128
Einband: Gebundene Ausgabe
Anzahl der Seiten: 140
Herausgeber: Baklanov Mikhail R., DuBois Geraud, Dussarrat Christian
Kontakt zum Hersteller: Nicht verf�gbar
Verantwortliche Person: Avery
https://www.avery.fr/

chemin des peupliers 27
Dardilly
Frankreich

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MATERIALS, PROCESSES, AND RELIABILITY FOR ADVANCED INTERCONNECTS FOR MICRO- AND NANOELECTRONICS �" 2011

MIKHAIL R. BAKLANOV, IMECGERAUD DUBOIS, IBM ALMADEN RESEARCH CENTERCHRISTIAN DUSSARRAT, AIR LIQUIDETERUKAZU KOKUBO, NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE AND TECHNOLOGYSHINICHI OGAWA, JSR TSUKUBA RESEARCH LABORATORIES DIV CLASS="CONTRIBUTORSPEOPLE">DIV CLASS="CONTRIBUTORSPEOPLEHIDDEN">MARIANNA PANTOUVAKI, ANTHONY GRUNENWALD, SHOKO ONO, HEE-WOO RHEE, JOHN H. ZHANG, QUOC TOAN LE, SVEN ZIMMERMANN, VALERI AFANAS'EV, NAN LU, WIM BOGAERTS, SHAONING YAO, NEDA DALILI, JON GUDMUNDSSON, PATRIC

Verlag: Materials Research Society, 2011

ISBN 10: 1605113123 ISBN 13: 9781605113128

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