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Inhaltsangabe
Modern Interferometry for Length Metrology: Exploring limits and novel techniques gives an overview of refined traditional methods and novel techniques in the field of length and distance metrology. Within the book advanced solutions, which can be used for various applications and can help provide a comprehensive understanding of both metrology and interferometry, have been developed and discussed.
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Modern Interferometry for Length Metrology: Exploring limits and novel techniques
Verlag:
INSTITUTE OF PHYSICS PUB, 2018
ISBN 10: 0750319445
ISBN 13: 9780750319447
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Kartoniert / Broschiert
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Modern Interferometry for Length Metrology: Exploring limits and novel techniques
Verlag:
Institute of Physics Publishing, 2018
ISBN 10: 0750319445
ISBN 13: 9780750319447
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Softcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Modern Interferometry for Length Metrology : Exploring limits and novel techniques
Verlag:
IOP Publishing Ltd Dez 2018, 2018
ISBN 10: 0750319445
ISBN 13: 9780750319447
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Taschenbuch
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Neuware - Modern Interferometry for Length Metrology: Exploring limits and novel techniques gives an overview of refined traditional methods and novel techniques in the field of length and distance metrology. Within the book advanced solutions, which can be used for various applications and can help provide a comprehensive understanding of both metrology and interferometry, have been developed and discussed. Artikel-Nr. 9780750319447
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