Modern Interferometry for Length Metrology: Exploring limits and novel techniques (IOP Expanding Physics) - Hardcover

9780750315760: Modern Interferometry for Length Metrology: Exploring limits and novel techniques (IOP Expanding Physics)

Hardcover

ISBN 10: 0750315768 ISBN 13: 9780750315760

Verlag: Institute of Physics Publishing, 2018

Modern Interferometry for Length Metrology: Exploring limits and novel techniques gives an overview of refined traditional methods and novel techniques in the field of length and distance metrology. Within the book advanced solutions, which can be used for various applications and can help provide a comprehensive understanding of both metrology and interferometry, have been developed and discussed.

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�ber die Autorin bzw. den Autor

Charlotte y Peter Fiell son dos autoridades en historia, teor�a y cr�tica del dise�o y han escrito m�s de sesenta libros sobre la materia, muchos de los cuales se han convertido en �xitos de ventas. Tambi�n han impartido conferencias y cursos como profesores invitados, han comisariado exposiciones y asesorado a fabricantes, museos, salas de subastas y grandes coleccionistas privados de todo el mundo. Los Fiell han escrito numerosos libros para TASCHEN, entre los que se incluyen 1000 Chairs, Dise�o del siglo XX, El dise�o industrial de la A a la Z, Scandinavian Design y Dise�o del siglo XXI.

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