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Inhaltsangabe
A self-contained book on electron microscopy and spectrometry techniques for surface studies.
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Über die Autorin bzw. den Autor
Charlotte y Peter Fiell son dos autoridades en historia, teoría y crítica del diseño y han escrito más de sesenta libros sobre la materia, muchos de los cuales se han convertido en éxitos de ventas. También han impartido conferencias y cursos como profesores invitados, han comisariado exposiciones y asesorado a fabricantes, museos, salas de subastas y grandes coleccionistas privados de todo el mundo. Los Fiell han escrito numerosos libros para TASCHEN, entre los que se incluyen 1000 Chairs, Diseño del siglo XX, El diseño industrial de la A a la Z, Scandinavian Design y Diseño del siglo XXI.
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Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book is a comprehensive review of the theories, techniques and applications of reflection electron microscopy (REM), reflection high-energy electron diffraction (RHEED) and reflection electron energy-loss spectroscopy (REELS). The book is divided into three parts: diffraction, imaging and spectroscopy. The text is written to combine basic techniques with special applications, theories with experiments, and the basic physics with materials science, so that a full picture of RHEED and REM emerges. An entirely self-contained study, the book contains much invaluable reference material, including FORTRAN source codes for calculating crystal structures data and electron energy-loss spectra in different scattering geometries. This and many other features makes the book an important and timely addition to the materials science literature for researchers and graduate students in physics and materials science. Artikel-Nr. 9780521017954
Anzahl: 1 verfügbar