Inhaltsangabe
Providing a general survey of the theory of measurement error models, including the functional, structural, and ultrastructural models, this book is written in the of the Kendall and Stuart Advanced Theory of Statistics set and, like that series, includes exercises at the end of the chapters. The goal is to emphasize the ideas and practical implications of the theory in a style that does not concentrate on the theorem-proof format.
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Über die Autorin bzw. den Autor
Chi-Lun Cheng and John W. Van Ness are the authors of Statistical Regression with Measurement Error: Kendall's Library of Statistics 6, published by Wiley.
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Statistical Regression with Measurement Error
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Statistical Regression With Measurement Error
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Statistical Regression with Measurement
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Statistical Regression with Measurement Error: Kendall s Library of Statistics 6
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Zustand: New. Providing a general survey of the theory of measurement error models, including the functional, structural, and ultrastructural models, this book is written in the of the Kendall and Stuart Advanced Theory of Statistics set and, like that series, includes exercises at the end of the chapters. Num Pages: 262 pages, black & white illustrations. BIC Classification: PB. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 236 x 166 x 23. Weight in Grams: 554. . 2010. 1st Edition. Hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland. Artikel-Nr. V9780470711064
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Statistical Regression with Measurement Error : Kendall's Library of Statistics 6
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