Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits - Softcover

Buch 18 von 40: Frontiers in Electronic Testing

Sachdev, Manoj; Pineda De Gyvez, José

 
9780387516530: Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Softcover
ISBN 10: 0387516530 ISBN 13: 9780387516530
Verlag: Springer, 2008

Zu dieser ISBN ist aktuell kein Angebot verfügbar.

Verlag
Springer
Erscheinungsdatum
2008
Sprache
Englisch
ISBN 10 
0387516530
ISBN 13 
9780387516530
Einband
Taschenbuch
Anzahl der Seiten
352
Kontakt zum Hersteller
Nicht verfügbar
Verantwortliche Person
CMN Printpool Inh. Mathis Neumann
https://www.also.com/ec/cms5/en_6000/6000/index.jsp

Friedrich-Karl-Str. 9
Hamburg
Deutschland

Weitere beliebte Ausgaben desselben Titels

9780387465463: Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34, Band 34)

Vorgestellte Ausgabe

ISBN 10:  0387465464 ISBN 13:  9780387465463
Verlag: Springer, 2007
Hardcover