Advances in X-Ray Analysis: Volume 36 - Hardcover

 
9780306445712: Advances in X-Ray Analysis: Volume 36
Hardcover
ISBN 10: 0306445719 ISBN 13: 9780306445712
Verlag: Springer, 1993

Inhaltsangabe

Mathematical Techniques in XRay Spectrometry: Research in the Quantitative Analysis of Individual Particles by XRay Fluorescence Spectrometry (M. Lankosz et al.). Analysis of Light Elements by XRay Spectrometry: XRFA of Carbon in Steels (F. Weber et al.). XRS Techniques and Instrumentation: Diffraction Peaks in XRay Spectroscopy (R.G.Tissot, R.P. Goehner). OnLine, Industrial, and Other Applications of XRS: Application of XRF in the Aluminum Industry (F.R. Feret). XRay Characterization of Thin Films: Grazing Incidence XRay Characterization of Materials (D.K. Bowen, M. Wormington). WholePattern Fitting, Phase Analysis by Diffraction Methods: Phase Identification Using WholePattern Matching (D.K. Smith et al.). Polymer Applications of XRD. HighTemperature and NonAmbient Applications of XRD. Stress and Strain Determination by Diffraction Methods, Peak Broadening Analysis. XRD Techniques and Instrumentation. 71 additional articles. Index.

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Verlag
Springer
Erscheinungsdatum
1993
Sprache
Englisch
ISBN 10 
0306445719
ISBN 13 
9780306445712
Einband
Gebundene Ausgabe
Anzahl der Seiten
685
Herausgeber
Gilfrich John V., Huang Ting C., Hubbard C.R., James M.R., Jenkins Ron, Lachance G.R., Smith Deane K.
Kontakt zum Hersteller
Dt. Universitätsverlag
buchhandel-buch@springer.com

Abraham-Lincoln-Str. 46
Wiesbaden
65198
Deutschland

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