Principles of Semiconductor Network Testing

Afshar, Amir

ISBN 10: 0750694726 ISBN 13: 9780750694728

Verlag: Newnes, 1995

Sprache: Englisch

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First Edition, First Printing. Published by Butterworth-Heinemann, 1995. Octavo. Book is like new. 30 day money back guarantee. NEXT DAY SHIPPING! Excellent customer service. Please email with any questions or if you would like a photo. All books packed carefully and ship with free delivery confirmation/tracking. All books come with free bookmarks. Ships from Sag Harbor, New York.

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Bibliografische Details

Titel

Principles of Semiconductor Network Testing

Verlag

Newnes

Erscheinungsjahr

1995

Sprache

Englisch

ISBN-10

0750694726

ISBN-13

9780750694728

Einband

Hardcover

Auflage

First Edition.

Zustand

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Science & Nature

�ber diesen Titel

Inhaltsangabe

Principles of Semiconductor Network Testing gathers together comprehensive information which test and process professionals will find invaluable. The techniques outlined will help ensure that test methods and data collected reflect actual device performance, rather than 'testing the tester' or being lost in the noise floor. This book addresses the fundamental issues underlying the semiconductor test discipline. The test engineer must understand the basic principles of semiconductor fabrication and process and have an in-depth knowledge of circuit functions, instrumentation and noise sources.

Rese�a del editor

Principles of Semiconductor Network Testing gathers together comprehensive information which test and process professionals will find invaluable. The techniques outlined will help ensure that test methods and data collected reflect actual device performance, rather than 'testing the tester' or being lost in the noise floor.

This book addresses the fundamental issues underlying the semiconductor test discipline. The test engineer must understand the basic principles of semiconductor fabrication and process and have an in-depth knowledge of circuit functions, instrumentation and noise sources.

Introduces a novel component-testing philosophy for semiconductor test, product and design engineers
Best new source of information for experienced semiconductor engineers as well as entry-level personnel
Eight chapters about semiconductor testing

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