Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability : A Physics of Failure Approach

Buch 4 von 4: Electronic Packaging

Pecht, Michael, Hakim, Edward B., Lall, Pradeep

ISBN 10: 0849394503 ISBN 13: 9780849394508
Verlag: CRC Press LLC, 1997
Sprache: Englisch
Zustand: Gebraucht - Befriedigend Hardcover

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