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Multi-Chip Module Test Strategies (Frontiers in Electronic Testing)
Zorian, Yervant (Editor)
Sprache: Englisch
Verlag: Springerverlag Us, 2012
1461377986 / 9781461377986
Serie: Buch 2 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Softcover
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes KönigreichRevaluation Books
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Zustand: Neu
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Paperback. Zustand: Brand New. reprint edition. 167 pages. 10.24x7.68x0.38 inches. In Stock.