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yield variability optimization integrated von jian cheng (4 Ergebnisse)
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 114,29
EUR 13,83 Versand
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits | Jian Cheng Zhang (u. a.) | Taschenbuch | xvii | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9781461359357 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Sprache: Englisch
Verlag: Kluwer Academic Publishers, 1995
ISBN 10: 0792395514 ISBN 13: 9780792395515
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. Deals with the primary and theoretical and practical aspects of IC statistical design and covers the important issues of IC statistical design and the relevant mathematical framework. This book is intended as introductory reference material for various groups of IC designers. Num Pages: 234 pages, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 15. Weight in Grams: 542. . 1995. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
