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Transmission Electron Microscopy Methods for Understanding the Brain.
Anbieter: Universitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH, Berlin, Deutschland
Verbandsmitglied: GIAQ ILAB VDA
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
XIV, 246 p. Softcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Neuromethods. Volume 115. Sprache: Englisch.
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Scanning Transmission Electron Microscopy: Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
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Scanning Transmission Electron Microscopy: Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Integrated light, electron transmission, scanning and confocal laser: Multiple microscopy methods applied to the cerebellar cortex
Sprache: Englisch
Verlag: LAP LAMBERT Academic Publishing, 2024
ISBN 10: 6207641116 ISBN 13: 9786207641116
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Scanning Transmission Electron Microscopy: Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 164 pages. 9.18x6.12x9.21 inches. In Stock.
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Transmission Electron Microscopy Methods for Understanding the Brain (Neuromethods, 115)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Transmission Electron Microscopy Methods for Understanding the Brain (Neuromethods, 115)
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Integrated light, electron transmission, scanning and confocal laser | Multiple microscopy methods applied to the cerebellar cortex
Sprache: Englisch
Verlag: LAP LAMBERT Academic Publishing, 2024
ISBN 10: 6207641116 ISBN 13: 9786207641116
Taschenbuch. Zustand: Neu. Integrated light, electron transmission, scanning and confocal laser | Multiple microscopy methods applied to the cerebellar cortex | Orlando Castejon | Taschenbuch | Englisch | 2024 | LAP LAMBERT Academic Publishing | EAN 9786207641116 | Verantwortliche Person für die EU: SIA OmniScriptum Publishing, Brivibas Gatve 197, 1039 RIGA, LETTLAND, customerservice[at]vdm-vsg[dot]de | Anbieter: preigu.
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![Beispielbild für Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials [Englisch] [Gebundene Ausgabe] Brent Fultz (Autor), James Howe (Autor) This hugely successful and highly acclaimed text is designed to meet the needs of materials scientists at all levels. In this third edition readers get a fully updated and revised text, too. Fultz and Howe explain concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The edition has been updated to cover important technical developments, including the remarkable recent improvement in resolution of the TEM, and all chapters have been updated and revised for clarity. A new chapter on high resolution STEM methods has been added. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises. zum Verkauf von BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer](https://pictures.abebooks.com/isbn/9783540738855-de-300.jpg)
Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials [Englisch] [Gebundene Ausgabe] Brent Fultz (Autor), James Howe (Autor) This hugely successful and highly acclaimed text is designed to meet the needs of materials scientists at all levels. In this third edition readers get a fully updated and revised text, too. Fultz and Howe explain concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The edition has been updated to cover important technical developments, including the remarkable recent improvement in resolution of the TEM, and all chapters have been updated and revised for clarity. A new chapter on high resolution STEM methods has been added. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer Auflage: 3rd ed. 2008. Corr. 2nd printing 2009, 2008
ISBN 10: 3540738851 ISBN 13: 9783540738855
Anbieter: BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer, Wahlstedt, Deutschland
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
Hardcover. Zustand: gut. This hugely successful and highly acclaimed text is designed to meet the needs of materials scientists at all levels. In this third edition readers get a fully updated and revised text, too. Fultz and Howe explain concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The edition has been updated to cover important technical developments, including the remarkable recent improvement in resolution of the TEM, and all chapters have been updated and revised for clarity. A new chapter on high resolution STEM methods has been added. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises. In englischer Sprache. 758 pages. 3,3 x 16 x 23,3 cm Auflage: 3rd ed. 2008. Corr. 2nd printing 2009.
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Scanning Transmission Electron Microscopy: Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications
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Transmission Electron Microscopy Methods for Understanding the Brain
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 10.00x7.25x0.75 inches. In Stock.
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Transmission Electron Microscopy Methods for Understanding the Brain
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This volume is directed at individuals interested in the field of neuroscience who are novices or experts in the use of transmission electron microscopy. The goal of is to provide a comprehensive series of chapters on how this tool can be used to study the brain with a strong emphasis on successful hands-on application of the electron microscopy technique. Written in the popular Neuromethods series style, chapters include the kind of detail and key advice from the specialists needed to get successful results in your own laboratory.Concise and easy-to-use,Transmission Electron Microscopy Methods for Understanding the Brainaims to ensure successful results in the further study of this vital field.
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Transmission Electron Microscopy Methods for Understanding the Brain
Sprache: Englisch
Verlag: Springer New York, Springer US, 2016
ISBN 10: 1493936387 ISBN 13: 9781493936380
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
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Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This volume is directed at individuals interested in the field of neuroscience who are novices or experts in the use of transmission electron microscopy. The goal of is to provide a comprehensive series of chapters on how this tool can be used to study the brain with a strong emphasis on successful hands-on application of the electron microscopy technique. Written in the popular Neuromethods series style, chapters include the kind of detail and key advice from the specialists needed to get successful results in your own laboratory.Concise and easy-to-use,Transmission Electron Microscopy Methods for Understanding the Brainaims to ensure successful results in the further study of this vital field.
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Scanning Transmission Electron Microscopy: Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications
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Scanning Transmission Electron Microscopy: Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications
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