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transmission electron microscopy diffractometry materials von fultz brent james howe (6 Ergebnisse)
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials: With numerous exercises
Anbieter: Studibuch, Stuttgart, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
hardcover. Zustand: Befriedigend. 778 Seiten; 9783540738855.4 Gewicht in Gramm: 2.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials: With numerous exercises
Anbieter: Studibuch, Stuttgart, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
hardcover. Zustand: Gut. 778 Seiten; 9783540738855.3 Gewicht in Gramm: 2.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Advanced Texts in Physics)
Anbieter: Studibuch, Stuttgart, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
hardcover. Zustand: Befriedigend. 767 Seiten; 9783540678410.4 Gewicht in Gramm: 2.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Advanced Texts in Physics)
Anbieter: Studibuch, Stuttgart, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
hardcover. Zustand: Gut. 767 Seiten; 9783540678410.3 Gewicht in Gramm: 2.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials.
Verlag: Springer, 2007
Sprache: Englisch
Anbieter: Antiquariat Thomas Haker GmbH & Co. KG, Berlin, Deutschland
Verbandsmitglied: GIAQ
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
SonderangebotEUR 21,84
EUR 105,00 für den Versand von Deutschland nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Wie neu. 778 S., Like new. Shrink wrapped. / Wie neu. In Folie verschweißt. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1355 3rd corrected Ed. 2008, corr. 2nd printing 2009.
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![Beispielbild für Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials [Englisch] [Gebundene Ausgabe] Brent Fultz (Autor), James Howe (Autor) This hugely successful and highly acclaimed text is designed to meet the needs of materials scientists at all levels. In this third edition readers get a fully updated and revised text, too. Fultz and Howe explain concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The edition has been updated to cover important technical developments, including the remarkable recent improvement in resolution of the TEM, and all chapters have been updated and revised for clarity. A new chapter on high resolution STEM methods has been added. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises. zum Verkauf von BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer](https://pictures.abebooks.com/isbn/9783540738855-de-300.jpg)
Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials [Englisch] [Gebundene Ausgabe] Brent Fultz (Autor), James Howe (Autor) This hugely successful and highly acclaimed text is designed to meet the needs of materials scientists at all levels. In this third edition readers get a fully updated and revised text, too. Fultz and Howe explain concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The edition has been updated to cover important technical developments, including the remarkable recent improvement in resolution of the TEM, and all chapters have been updated and revised for clarity. A new chapter on high resolution STEM methods has been added. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises.
Verlag: Springer Auflage: 3rd ed. 2008. Corr. 2nd printing 2009, 2008
ISBN 10: 3540738851 ISBN 13: 9783540738855
Sprache: Englisch
Anbieter: BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer, Wahlstedt, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Hardcover. Zustand: gut. This hugely successful and highly acclaimed text is designed to meet the needs of materials scientists at all levels. In this third edition readers get a fully updated and revised text, too. Fultz and Howe explain concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The edition has been updated to cover important technical developments, including the remarkable recent improvement in resolution of the TEM, and all chapters have been updated and revised for clarity. A new chapter on high resolution STEM methods has been added. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises. In englischer Sprache. 758 pages. 3,3 x 16 x 23,3 cm Auflage: 3rd ed. 2008. Corr. 2nd printing 2009.
