Topics electron diffraction microscopy (10 Ergebnisse)

Sprache: Englisch
Verlag: INST OF PHYSICS PUB 1999
Serie: Series in Microscopy in Materials Science, Buch 1 von 5. Buch 1 von 5 - Series in Microscopy in Materials Science
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Sprache: Englisch
Verlag: Inst of Physics Pub 1999
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Gebundene Ausgabe. Zustand: Sehr gut. 196 Seiten Cover leicht berieben und kleine Lagerspuren am Buch, Inhalt einwandfrei und ungelesen Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 490.

Sprache: Englisch
Verlag: CRC Press 1999
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Sprache: Englisch
Verlag: CRC Press 1999
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Sprache: Englisch
Verlag: Inst of Physics Pub Inc 1999
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Sprache: Englisch
Verlag: CRC Press 1999
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Zustand: New. Peter. B HirschTopics in Electron Diffraction and Microscopy of Materials celebrates the retirement of Professor Michael Whelan from the University of Oxford. Professor Whelan taught many of today s heads of department and was a pioneer in the develo.

Sprache: Englisch
Verlag: Taylor & Francis Ltd Jan 1999 1999
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Buch. Zustand: Neu. Neuware - This book has been written following a festschrift held on Prof Mike Whelan's retirement from the University of Oxford. It brought together a who's who of electron microscopists all of whom have advanced the uses of microscopy to study materials. Contributions include: Hirsch on the history and impa…ct of electron microscopy in Materials Science; Cockayne (University of Sydney, Australia) writes on weak-beam techniques for problem solving, understanding defect structures and dislocation interactions; Moodie (Royal Melbourne Institute of Technology) investigates how to use beam diffraction patterns to look at defects in structures; Hashimoto (Okayama University of Science) shows how to obtain chemical identification at atomic resolution; Dudarev (Oxford) outlines theoretical developments in back sctarring channeling patterns; Humphreys (Cambridge) finds new ways to look at atomic bonds; Howie (Cambridge) uses numerical simulations to look at electronic structure of crystals; Peng (Chinese Academy of Sciences) illuminates Rheed observations for MBE growth; and Spence (Arizona State) speculates on atomic level imaging. applications; novel.

Sprache: Englisch
Verlag: CRC Press 1999
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Zustand: New. 1999. 1st Edition. hardcover. . . . . . Books ship from the US and Ireland.

Sprache: Englisch
Verlag: CRC Press 1999
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Buch. Zustand: Neu. Topics in Electron Diffraction and Microscopy of Materials | P. B. Hirsch | Buch | Series in Microscopy in Materials Science | Einband - fest (Hardcover) | Englisch | 1999 | CRC Press | EAN 9780750305389 | Verantwortliche Person für die EU: preigu GmbH & Co. KG, Lengericher Landstr. 19, 49078 Osnabrück, mail[…at]preigu[dot]de | Anbieter: preigu.