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testing small delay defects nanoscale (8 Ergebnisse)
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 107,24
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In den WarenkorbZustand: New. pp. 259.
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 113,69
Währung umrechnenEUR 5,70 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. In.
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Testing For Small-Delay Defects In Nanoscale Cmos Integrated Circuits (
Anbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USA
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EUR 167,60
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In den WarenkorbZustand: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Anbieter: PBShop.store US, Wood Dale, IL, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 236,49
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In den WarenkorbHRD. Zustand: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Anbieter: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 241,09
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In den WarenkorbHRD. Zustand: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
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EUR 246,59
Währung umrechnenKostenlos für den Versand innerhalb von/der DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. Sandeep Kumar Goel is a Senior Manager (DFT/3D-Test) with Taiwan Semiconductor Manufacturing Company (TSMC), San Jose, CA. He received his Ph.D. degree from the University of Twente, The Netherlands. Prior to TSMC, he was in various rese.
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Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 284,62
Währung umrechnenEUR 11,45 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 1st edition. 250 pages. 9.49x6.10x0.87 inches. In Stock.
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Verlag: Taylor & Francis Inc Okt 2013, 2013
ISBN 10: 1439829411 ISBN 13: 9781439829417
Sprache: Englisch
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 301,14
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In den WarenkorbBuch. Zustand: Neu. Neuware - Advances in design methods and process technologies are causing a continuous increase in the complexity of integrated circuits (ICs). However, the increased complexity and nanometer-size features of modern ICs make them susceptible to manufacturing defects, as well as performance and quality issues. This book covers common problems in areas such as process variation, power supply, noise, crosstalk, resistive opens/bridges, and design-for-manufacturing (DiM)-related rule violations. The book also addresses small-delay defects (SDDs) and testing, which can cause immediate failures if introduced on both critical and non-critical paths in the circuit.
