Reliability prediction microelectronics von bernstein joseph (6 Ergebnisse)
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Reliability Prediction for Microelectronics
Joseph B. Bernstein, Alain (Universite Paris-Dauphine et INRIA) Bensoussan, Emmanuel Bender
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Zustand: Gut. Zustand: Gut | Seiten: 384 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
Reliability Prediction for Microelectronics Joseph B. Bernstein, Alain (Universite Paris-Dauphine et INRIA) Bensoussan, Emmanuel Bender
Joseph B. Bernstein, Alain (Universite Paris-Dauphine et INRIA) Bensoussan, Emmanuel Bender
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