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reflection electron microscopy spectotrophy surface von wang zhong lin (1 Ergebnisse)
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Reflection Electron Microscopy and spectotrophy for surface analysis
Verlag: Cambridge University Press, 2008
Sprache: Englisch
Anbieter: Antiquariat Thomas Haker GmbH & Co. KG, Berlin, Deutschland
Verbandsmitglied: GIAQ
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 14,10
Währung umrechnenEUR 1,50 für den Versand innerhalb von/der DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbPaperback. Zustand: Wie neu. Revised ed. 460 S.; Ill. Like new. Shrink wrapped. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 845.
