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quantitative x ray diffractometry von zevin lev (5 Ergebnisse)
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Quantitative x-ray diffractometry.
Buch 1 von 55: Contributions to Political ScienceAnbieter: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Hardcover. XVII, 372 S. Ehem. Bibliotheksexemplar mit Signatur und Stempel. GUTER Zustand, ein paar Gebrauchsspuren. Ex-library in GOOD condition with library-signature and stamp(s). Some traces of use. R-16139 9780387945415 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 550.
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Dec 06, 1995. Zustand: gebraucht; sehr gut. Hardcover, 1995, Bibliothekstempel am Vorsatzblatt-Innenseite, ansonsten ungebraucht.
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Quantitative X-Ray Diffractometry
Buch 1 von 55: Contributions to Political ScienceAnbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 153,33
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. reprint edition. 389 pages. 9.50x6.75x1.00 inches. In Stock.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Quantitative X-Ray Diffractometry | Lev S. Zevin (u. a.) | Taschenbuch | xvii | Englisch | 2011 | Springer New York | EAN 9781461395379 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Quantitative X-Ray Diffractometry
Sprache: Englisch
Verlag: Springer New York, Springer US, 2011
ISBN 10: 1461395372 ISBN 13: 9781461395379
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - One of the most important techniques for determining the atomic structure of a material is X-ray diffraction. One of the great problems of the technique, however, is the fact that only the intensity of the diffraction pattern can be measured, not its phase. The inverse problem, of determining the structure from the pattern thus contains ambiguities that must be resolved by other means. Quantitative X-ray analysis provides one way to resolve this phase problem: mixing the material in question with a material of known structure yields interferences that can be analyzed to yield the unknown phases. Invented in 1916, but little used at the time, the technique has seen a recent revival due to the development of extremely precise X-ray diffractometers coupled with powerful computers.
