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Physics of Failure in Electronics, Volume 4: Rome Air Development Center Reliability Series
Verlag: Air Force Systems Command, Griffiss AFB, NY, 1966
Anbieter: Ground Zero Books, Ltd., Silver Spring, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: good. 648, illus., figures, tables, refs, some foxing fore-edge, small scratches fr board, ink name ins fr flylf, ink notation frontis. Proceedings of the 1965 Symposium on the Physics of Failure in Electronics. Papers were presented on interconnections; test, analysis, and correlation; device physics; surface effects; bulk effects; and Minuteman II CQAP Program.
