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Optical Testing of Semiconductor Devices under High Energy Pulses | Advanced Optical Interferometric Methods for Nanosecond Mapping of Semiconductor Devices under High Energy Pulses
Sprache: Englisch
Verlag: Südwestdeutscher Verlag für Hochschulschriften, 2015
ISBN 10: 3838104048 ISBN 13: 9783838104041
Taschenbuch. Zustand: Neu. Optical Testing of Semiconductor Devices under High Energy Pulses | Advanced Optical Interferometric Methods for Nanosecond Mapping of Semiconductor Devices under High Energy Pulses | Viktor Dubec | Taschenbuch | 160 S. | Deutsch | 2015 | Südwestdeutscher Verlag für Hochschulschriften | EAN 9783838104041 | Verantwortliche Person für die EU: preigu GmbH & Co. KG, Lengericher Landstr. 19, 49078 Osnabrück, mail[at]preigu[dot]de | Anbieter: preigu.
