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novel algorithms fast statistical von singhee amith (5 Ergebnisse)
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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 195 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering, 46)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 118,53
Währung umrechnenEUR 5,87 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. In.
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 153,01
Währung umrechnenEUR 11,79 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 2009 edition. 210 pages. 9.25x6.10x0.48 inches. In Stock.
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 162,93
Währung umrechnenKostenlos für den Versand innerhalb von/der DeutschlandAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbBuch. Zustand: Neu. Neuware - As VLSI technology moves to the nanometer scale for transistor feature sizes, the impact of manufacturing imperfections result in large variations in the circuit performance. Traditional CAD tools are not well-equipped to handle this scenario, since they do not model this statistical nature of the circuit parameters and performances, or if they do, the existing techniques tend to be over-simplified or intractably slow. Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits draws upon ideas for attacking parallel problems in other technical fields, such as computational finance, machine learning and actuarial risk, and synthesizes them with innovative attacks for the problem domain of integrated circuits. The result is a set of novel solutions to problems of efficient statistical analysis of circuits in the nanometer regime.
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering, 46)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 169,04
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