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multi run memory tests pattern von mrozek ireneusz (9 Ergebnisse)
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Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults.
Anbieter: Universitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH, Berlin, Deutschland
Verbandsmitglied: GIAQ ILAB VDA
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
X, 135 p. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Sprache: Englisch.
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Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 60,61
EUR 13,88 Versand
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Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 78,96
EUR 11,58 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 148 pages. 9.25x6.10x0.67 inches. In Stock.
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Multi-run Memory Tests For Pattern Sensi
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New.
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Multi-run Memory Tests For Pattern Sensi
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New.
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Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults
Sprache: Englisch
Verlag: Springer International Publishing, Springer International Publishing, 2019
ISBN 10: 3030081982 ISBN 13: 9783030081980
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory. The author discusses background selection and address reordering algorithms in multi-run transparent march testing processes. Formal methods for multi-run test generation and many solutions to increase their efficiency are described in detail. All methods presented ideas are verified by both analytical investigations and numerical simulations.Provides the first book related exclusively to the problem of multi-cell fault detection by multi-run tests in memory testing process;Presents practical algorithms for design and implementation of efficient multi-run tests;Demonstrates methods verified by analytical and experimental investigations.
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Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults
Sprache: Englisch
Verlag: Springer International Publishing, 2018
ISBN 10: 3319912038 ISBN 13: 9783319912035
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory. The author discusses background selection and address reordering algorithms in multi-run transparent march testing processes. Formal methods for multi-run test generation and many solutions to increase their efficiency are described in detail. All methods presented ideas are verified by both analytical investigations and numerical simulations.Provides the first book related exclusively to the problem of multi-cell fault detection by multi-run tests in memory testing process;Presents practical algorithms for design and implementation of efficient multi-run tests;Demonstrates methods verified by analytical and experimental investigations.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults | Ireneusz Mrozek | Taschenbuch | x | Englisch | 2019 | Springer | EAN 9783030081980 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
