Multi run memory tests pattern von mrozek ireneusz (9 Ergebnisse)

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    • Sprache: Englisch

      Verlag: Cham, Springer., 2019

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    • Sprache: Englisch

      Verlag: Springer, 2018

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      • Hardcover

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      Verlag: Springer, 2019

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      Hardcover. Zustand: Brand New. 148 pages. 9.25x6.10x0.67 inches. In Stock.

    • Sprache: Englisch

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      Verlag: Springer International Publishing, Springer International Publishing, 2019

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      Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory. The author discusses background selection and address reordering

    • Sprache: Englisch

      Verlag: Springer International Publishing, 2018

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      Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory. The author discusses background selection and address reordering algorit

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      Taschenbuch. Zustand: Neu. Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults | Ireneusz Mrozek | Taschenbuch | x | Englisch | 2019 | Springer | EAN 9783030081980 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.