Multi chip module test strategies (8 Ergebnisse)
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 1997
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 2 von 40. Buch 2 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Hardcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
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Zustand: New. In.
Sprache: Englisch
Verlag: Kluwer Academic Pub 1997
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 2 von 40. Buch 2 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Softcover
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes KönigreichRevaluation Books
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Paperback. Zustand: Brand New. 166 pages. 10.75x8.25x0.75 inches. In Stock.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2012
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 2 von 40. Buch 2 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Softcover
Anbieter: preigu, Osnabrück, Deutschlandpreigu
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Multi-Chip Module Test Strategies | Yervant Zorian | Taschenbuch | 167 S. | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9781461377986 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer US 1997
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 2 von 40. Buch 2 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Hardcover
Anbieter: moluna, Greven, Deutschlandmoluna
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Zustand: New. MCMs today consist of complex and dense VLSI devices mounted into packages that allow little physical access to internal nodes. The complexity and cost associated with their test and diagnosis are major obstacles to their use. Multi-Chip Module Test .
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, Springer US 2012
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 2 von 40. Buch 2 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Softcover
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - MCMs today consist of complex and dense VLSI devices mounted into packages that allow little physical access to internal nodes. The complexity and cost associated with their test and diagnosis are major obstacles to their use. Multi-Chip Module Test…Strategies presents state-of-the-art test strategies for MCMs. This volume of original research is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers looking for leading edge test and design-for-testability solutions for their next designs. Multi-Chip Module Test Strategies consists of eight contributions by leading researchers. It is designed to provide a comprehensive and well-balanced coverage of the MCM test domain. Multi-Chip Module Test Strategies has also been published as a special issue of the Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA, Volume 10, Numbers 1 and 2).
Sprache: Englisch
Verlag: Springerverlag Us 2012
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 2 von 40. Buch 2 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Softcover
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes KönigreichRevaluation Books
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Paperback. Zustand: Brand New. reprint edition. 167 pages. 10.24x7.68x0.38 inches. In Stock.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer Us 1997
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 2 von 40. Buch 2 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Hardcover
Anbieter: Buchpark, Trebbin, DeutschlandBuchpark
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Zustand: Gut. Zustand: Gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | MCMs today consist of complex and dense VLSI devices mounted into packages that allow little physical access to internal nodes. The complexity and cost associated with their test and diagnosis are major obstacles to their use. Multi-Chip Module Test Strategies… presents state-of-the-art test strategies for MCMs. This volume of original research is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers looking for leading edge test and design-for-testability solutions for their next designs. Multi-Chip Module Test Strategies consists of eight contributions by leading researchers. It is designed to provide a comprehensive and well-balanced coverage of the MCM test domain. Multi-Chip Module Test Strategies has also been published as a special issue of the Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA, Volume 10, Numbers 1 and 2).
Sprache: Englisch
Verlag: Springer Us Mai 1997 1997
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 2 von 40. Buch 2 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Hardcover
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH
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Buch. Zustand: Neu. Neuware - MCMs today consist of complex and dense VLSI devices mounted into packages that allow little physical access to internal nodes. The complexity and cost associated with their test and diagnosis are major obstacles to their use. Multi-Chip Module Test Strategies presents state-of-the-art test strategi…es for MCMs. This volume of original research is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers looking for leading edge test and design-for-testability solutions for their next designs. Multi-Chip Module Test Strategies consists of eight contributions by leading researchers. It is designed to provide a comprehensive and well-balanced coverage of the MCM test domain. Multi-Chip Module Test Strategies has also been published as a special issue of the Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA, Volume 10, Numbers 1 and 2).
