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fault tolerance techniques sram based fpgas von kastensmidt fernanda (7 Ergebnisse)
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EUR 32,86
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In den WarenkorbGebunden. Zustand: New. Very few books discuss fault-tolerance techniques for SRAM-based FPGAsShows state-of-the-art fault tolerance solutions for FPGAsShows fault-tolerance techniques that can be applied in different design phasesDiscusses the main differe.
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Fault-Tolerance Techniques for SRAM-Based FPGAs
Anbieter: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 49,40
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In den WarenkorbHRD. Zustand: Used - Very Good. Used - Like New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
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Fault-Tolerance Techniques for Sram-Based FPGAs
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 91,07
Währung umrechnenKostenlos für den Versand innerhalb von/der DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbBuch. Zustand: Neu. Neuware - Fault-tolerance in integrated circuits is not an exclusive concern regarding space designers or highly-reliable application engineers. Rather, designers of next generation products must cope with reduced margin noises due to technological advances. The continuous evolution of the fabrication technology process of semiconductor components, in terms of transistor geometry shrinking, power supply, speed, and logic density, has significantly reduced the reliability of very deep submicron integrated circuits, in face of the various internal and external sources of noise. The very popular Field Programmable Gate Arrays, customizable by SRAM cells, are a consequence of the integrated circuit evolution with millions of memory cells to implement the logic, embedded memories, routing, and more recently with embedded microprocessors cores. These re-programmable systems-on-chip platforms must be fault-tolerant to cope with present days requirements. This book discusses fault-tolerance techniques for SRAM-based Field Programmable Gate Arrays (FPGAs). It starts by showing the model of the problem and the upset effects in the programmable architecture. In the sequence, it shows the main fault tolerance techniques used nowadays to protect integrated circuits against errors. A large set of methods for designing fault tolerance systems in SRAM-based FPGAs is described. Some presented techniques are based on developing a new fault-tolerant architecture with new robustness FPGA elements. Other techniques are based on protecting the high-level hardware description before the synthesis in the FPGA. The reader has the flexibility of choosing the most suitable fault-tolerance technique for its project and to compare a set of fault tolerant techniques for programmable logic applications.
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Fault-Tolerance Techniques for SRAM-Based FPGAs (Frontiers in Electronic Testing, 32)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 116,51
Währung umrechnenEUR 5,77 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
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Fault-Tolerance Techniques for SRAM-Based FPGAs (Frontiers in Electronic Testing, 32)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 141,33
Währung umrechnenEUR 5,77 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
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Fault-Tolerance Techniques for SRAM-Based FPGAs
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 148,76
Währung umrechnenEUR 11,59 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 183 pages. 9.00x6.00x0.46 inches. In Stock.
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Fault-Tolerance Techniques for SRAM-Based FPGAs (Frontiers in Electronic Testing)
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 150,73
Währung umrechnenEUR 11,59 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 1st edition. 183 pages. 9.25x6.00x0.75 inches. In Stock.
