Embedded processor based self test von gizopoulos dimitris (11 Ergebnisse)
Sprache: Englisch
Verlag: New Age International Publisher 2009
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 34 von 40. Buch 34 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Softcover
- Internationale Ausgabe
Anbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USARomtrade Corp.
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenInternationale AusgabeZustand: Neu
EUR 27,01
Versand nach gratisVersand innerhalb von USAAnzahl: 5 verfügbar
Zustand: New. Brand New. Soft Cover International Edition. Different ISBN and Cover Image. Priced lower than the standard editions which is usually intended to make them more affordable for students abroad. The core content of the book is generally the same as the standard edition. The country selling restrictions may be printed… on the book but is no problem for the self-use. This Item maybe shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2004
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 34 von 40. Buch 34 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Hardcover
Anbieter: PBShop.store US, Wood Dale, IL, USAPBShop.store US
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 143,39
Versand nach gratisVersand innerhalb von USAAnzahl: 1 verfügbar
HRD. Zustand: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2004
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 34 von 40. Buch 34 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Hardcover
Anbieter: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Vereinigtes KönigreichPBShop.store UK
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 138,57
EUR 5,82 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
HRD. Zustand: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2011
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 34 von 40. Buch 34 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Softcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 164,50
EUR 13,88 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New. In.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2004
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 34 von 40. Buch 34 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Hardcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 188,94
EUR 13,88 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New. In.
Weitere BilderSprache: Englisch
Verlag: Springer US 2011
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 34 von 40. Buch 34 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Softcover
Anbieter: preigu, Osnabrück, Deutschlandpreigu
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 140,00
EUR 70,00 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 5 verfügbar
Taschenbuch. Zustand: Neu. Embedded Processor-Based Self-Test | Dimitris Gizopoulos (u. a.) | Taschenbuch | xv | Englisch | 2011 | Springer US | EAN 9781441952523 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer US 2004
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 34 von 40. Buch 34 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Hardcover
Anbieter: preigu, Osnabrück, Deutschlandpreigu
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 138,30
EUR 70,00 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 1 verfügbar
Buch. Zustand: Neu. Embedded Processor-Based Self-Test | Dimitris Gizopoulos (u. a.) | Buch | Frontiers in Electronic Testing | xv | Englisch | 2004 | Springer US | EAN 9781402027857 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter…: preigu.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer New York, Springer US 2011
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 34 von 40. Buch 34 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Softcover
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 167,14
EUR 61,83 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 1 verfügbar
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Embedded Processor-Based Self-Test is a guide to self-testing strategies for embedded processors. Embedded processors are regularly used today in most System-on-Chips (SoCs). Testing of microprocessors and embedded processors has always been a challe…nge because most traditional testing techniques fail when applied to them. This is due to the complex sequential structure of processor architectures, which consists of high performance datapath units and sophisticated control logic for performance optimization. Structured Design-for-Testability (DfT) and hardware-based self-testing techniques, which usually have a non-trivial impact on a circuit's performance, size and power, can not be applied without serious consideration and careful incorporation into the processor design.Embedded Processor-Based Self-Test shows how the powerful embedded functionality that processors offer can be utilized as a self-testing resource. Through a discussion of different strategies the book emphasizes on the emerging area of Software-Based Self-Testing (SBST). SBST is based on the idea of execution of embedded software programs to perform self-testing of the processor itself and its surrounding blocks in the SoC. SBST is a low-cost strategy in terms of overhead (area, speed, power), development effort and test application cost, as it is applied using low-cost, low-speed test equipment.Embedded Processor-Based Self-Test can be used by designers, DfT engineers, test practitioners, researchers and students working on digital testing, and in particular processor and SoC test. This book sets the framework for comparisons among different SBST methodologies by discussing key requirements. It presents successful applications of SBST to a number of embedded processors of different complexities and instruction set architectures.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2012
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 34 von 40. Buch 34 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Softcover
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes KönigreichRevaluation Books
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 236,38
EUR 11,59 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 2 verfügbar
Paperback. Zustand: Brand New. 232 pages. 9.00x6.00x0.60 inches. In Stock.
Sprache: Englisch
Verlag: Kluwer Academic Pub 2005
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 34 von 40. Buch 34 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Hardcover
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes KönigreichRevaluation Books
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 238,38
EUR 14,48 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 2 verfügbar
Hardcover. Zustand: Brand New. 1st edition. 216 pages. 9.50x6.50x0.50 inches. In Stock.
Sprache: Englisch
Verlag: Humana Dez 2004 2004
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 34 von 40. Buch 34 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Hardcover
Anbieter: Books-by-Floh, Paderborn, DeutschlandBooks-by-Floh
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 4 SternenZustand: Neu
EUR 203,44
EUR 105,00 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 2 verfügbar
Buch. Zustand: Neu. Neuware -Embedded Processor-Based Self-Test is a guide to self-testing strategies for embedded processors. Embedded processors are regularly used today in most System-on-Chips (SoCs). Testing of microprocessors and embedded processors has always been a challenge because most traditional testing techniques fai…l when applied to them. This is due to the complex sequential structure of processor architectures, which consists of high performance datapath units and sophisticated control logic for performance optimization. Structured Design-for-Testability (DfT) and hardware-based self-testing techniques, which usually have a non-trivial impact on a circuit's performance, size and power, can not be applied without serious consideration and careful incorporation into the processor design.Embedded Processor-Based Self-Test shows how the powerful embedded functionality that processors offer can be utilized as a self-testing resource. Through a discussion of different strategies the book emphasizes on the emerging area of Software-Based Self-Testing (SBST). SBST is based on the idea of execution of embedded software programs to perform self-testing of the processor itself and its surrounding blocks in the SoC. SBST is a low-cost strategy in terms of overhead (area, speed, power), development effort and test application cost, as it is applied using low-cost, low-speed test equipment.Embedded Processor-Based Self-Test can be used by designers, DfT engineers, test practitioners, researchers and students working on digital testing, and in particular processor and SoC test. This book sets the framework for comparisons among different SBST methodologies by discussing key requirements. It presents successful applications of SBST to a number of embedded processors of different complexities and instruction set architectures. 236 pp. Englisch.
