Electronic testing von farkas (13 Ergebnisse)
Verlag: Ed. McGraw-Hill Book Company - 1966 1966
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Ed. McGraw-Hill Book Company - 1966, in-8, reliure caronnée toilée avec jaquette, 304 pages 0TRès bon état du livre mais exemplaire de bibliothèque (2 tampons), jaquette défraîchie - Pour les envois hors de France, la tafication «livre & brochure» pour les frais de port a disparue.Les frais de port annoncés correspondent à une m…oyenne. Ils seront calculés au plus juste en fonction du poids de votre article.
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer, Berlin|Springer International Publishing|Springer 2022
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Gebunden. Zustand: New. This book discusses the significant aspects of thermal transient testing, the most important method of thermal characterization of electronics available today. The book presents the theoretical background of creating structure functions from the measured.
Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components
Rencz, Marta (Editor)/ Farkas, Gábor (Editor)/ Poppe, András (Editor)
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components | Marta Rencz (u. a.) | Taschenbuch | ix | Englisch | 2024 | Springer | EAN 9783030861766 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com |…Anbieter: preigu.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer International Publishing, Springer Nature Switzerland 2024
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book discusses the significant aspects of thermal transient testing, the most important method of thermal characterization of electronics available today. The book presents the theoretical background of creating structure functions from the meas…ured results with mathematical details. It then shows how the method can be used for thermal qualification, structure integrity testing, determining material parameters, and calibrating simulation models. General practical questions about measurements are discussed to help beginners carry out thermal transient testing. The particular problems and tricks of measuring with various electronic components, such as Si diodes, bipolar transistors, MOS transistors, IGBT devices, resistors, capacitors, wide bandgap materials, and LEDs, are covered in detail with the help of various use cases. This hands-on book will enable readers to accomplish thermal transient testing on any new type of electronics and provides the theoretical details needed tounderstand the opportunities and limitations offered by the methodology. The book will be an invaluable reference for practicing engineers, students, and researchers.
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Zustand: Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Seiten: 396 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This book discusses the significant aspects of thermal transient testing, the most important method of thermal characterization of electronics available today. The book presents the theoretical background of creating structure f…unctions from the measured results with mathematical details. It then shows how the method can be used for thermal qualification, structure integrity testing, determining material parameters, and calibrating simulation models. General practical questions about measurements are discussed to help beginners carry out thermal transient testing. The particular problems and tricks of measuring with various electronic components, such as Si diodes, bipolar transistors, MOS transistors, IGBT devices, resistors, capacitors, wide bandgap materials, and LEDs, are covered in detail with the help of various use cases. This hands-on book will enable readers to accomplish thermal transient testing on any new type of electronics and provides the theoretical details needed tounderstand the opportunities and limitations offered by the methodology. The book will be an invaluable reference for practicing engineers, students, and researchers.
Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components
Rencz, Marta (Editor)/ Farkas, Gábor (Editor)/ Poppe, András (Editor)
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Hardcover. Zustand: Brand New. 394 pages. 9.25x6.10x0.88 inches. In Stock.
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Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book discusses the significant aspects of thermal transient testing, the most important method of thermal characterization of electronics available today. The book presents the theoretical background of creating structure functions from the measured re…sults with mathematical details. It then shows how the method can be used for thermal qualification, structure integrity testing, determining material parameters, and calibrating simulation models. General practical questions about measurements are discussed to help beginners carry out thermal transient testing. The particular problems and tricks of measuring with various electronic components, such as Si diodes, bipolar transistors, MOS transistors, IGBT devices, resistors, capacitors, wide bandgap materials, and LEDs, are covered in detail with the help of various use cases. This hands-on book will enable readers to accomplish thermal transient testing on any new type of electronics and provides the theoretical details needed tounderstand the opportunities and limitations offered by the methodology. The book will be an invaluable reference for practicing engineers, students, and researchers.
