Electron spectroscopy surface analysis (28 Ergebnisse)
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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This book is t~e fifth in aseries of scientific textbooks designed to cover advances in selected research fields from a basic and general view point. The reader is taken carefully but rapidly through the introductory material in order that t~e signi…ficance of recent developments can be understood with only limited initial knowledge. The inclusion in the Appendix of the abstracts of many of the more important papers in the field provides further assistance for the non-specialist, and acts as aspringboard to supplementary reading for those who wish to consult the original liter ature. Surface analysis has been the subject of numerous books and review articles, and the fundamental scientific principles of t~e more popular techniques are now reasonably weIl established. This book is concerned with the very powerful techniques of Auger electron and X-ray photoelectron spectroscopy (AES and XPS), with an emphasis on how they may be performed as part of a modern analytical facility. Since the development of AES and XPS in the late 1960s and early 1970s there have been great strides forward in the sensitivities and resolutions of the instrumentation. Simultaneously, these spectroscopies have undergone a veritable explosion, both in their acceptance alongside more routine ana1ytical techniques and in the range of problems and materials to which they are applied. As a result, many researchers in industry and in academia now come into contact with AES and XPS not as specialists, but as users.
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Electron Spectroscopy for Surface Analysis (Topics in Current Physics)
Ibach, H. (Editor) / Feuerbacher, B. (Contributor) / Henzler, M. (Contributor) / Kirschner, J. (Contributor) / Fitton, B. (Contributor) / Roy, D. (Contributor) / Froitzheim, H. (Contributor) / Carette, J.D. (Contributor) / Ibach, H. (Contributor)
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Paperback. Zustand: Brand New. reprint edition. 276 pages. 9.60x6.70x0.60 inches. In Stock.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The development of surface physics and surface chemistry as a science is closely related to the technical development of a number of methods involving electrons either as an excitation source or as an emitted particle carrying characteristic informat…ion. Many of these various kinds of electron spectroscopies have become commercially available and have made their way into industrial laboratories. Others are still in an early stage, but may become of increasing importance in the future. In this book an assessment of the various merits and possible drawbacks of the most frequently used electron spectroscopies is attempted. Emphasis is put on prac tical examples and experimental design rather than on theoretical considerations. The book addresses itself to the reader who wishes to know which electron spectroscopy or which combination of different electron spectroscopies he may choose for the particular problems under investigation. After a brief introduction the practical design of electron spectrometers and their figures of merit important for the different applications are discussed in Chapter 2. Chapter 3 deals with electron excited electron spectroscopies which are used for the elemental analysis of surfaces. Structure analysis by electron diffrac tion is described in Chapter 4 with special emphasis on the use of electron diffrac tion for the investigation of surface imperfections. For the application of electron diffraction to surface crystallography in general, the reader is referred to Volume 4 of 'Topics in Applied Physics'.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Surface Analysis by Electron Spectroscopy | Measurement and Interpretation | Graham C. Smith | Taschenbuch | Updates in Applied Physics and Electrical Technology | xi | Englisch | 2013 | Springer | EAN 9781489909695 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Hei…delberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book is t~e fifth in aseries of scientific textbooks designed to cover advances in selected research fields from a basic and general view point. The reader is taken carefully but rapidly through the introductory material in order that t~e significance…of recent developments can be understood with only limited initial knowledge. The inclusion in the Appendix of the abstracts of many of the more important papers in the field provides further assistance for the non-specialist, and acts as aspringboard to supplementary reading for those who wish to consult the original liter ature. Surface analysis has been the subject of numerous books and review articles, and the fundamental scientific principles of t~e more popular techniques are now reasonably weIl established. This book is concerned with the very powerful techniques of Auger electron and X-ray photoelectron spectroscopy (AES and XPS), with an emphasis on how they may be performed as part of a modern analytical facility. Since the development of AES and XPS in the late 1960s and early 1970s there have been great strides forward in the sensitivities and resolutions of the instrumentation. Simultaneously, these spectroscopies have undergone a veritable explosion, both in their acceptance alongside more routine ana1ytical techniques and in the range of problems and materials to which they are applied. As a result, many researchers in industry and in academia now come into contact with AES and XPS not as specialists, but as users.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book is t~e fifth in aseries of scientific textbooks designed to cover advances in selected research fields from a basic and general view point. The reader is taken carefully but rapidly through the introductory material in order that t~e signif…icance of recent developments can be understood with only limited initial knowledge. The inclusion in the Appendix of the abstracts of many of the more important papers in the field provides further assistance for the non-specialist, and acts as aspringboard to supplementary reading for those who wish to consult the original liter ature. Surface analysis has been the subject of numerous books and review articles, and the fundamental scientific principles of t~e more popular techniques are now reasonably weIl established. This book is concerned with the very powerful techniques of Auger electron and X-ray photoelectron spectroscopy (AES and XPS), with an emphasis on how they may be performed as part of a modern analytical facility. Since the development of AES and XPS in the late 1960s and early 1970s there have been great strides forward in the sensitivities and resolutions of the instrumentation. Simultaneously, these spectroscopies have undergone a veritable explosion, both in their acceptance alongside more routine ana1ytical techniques and in the range of problems and materials to which they are applied. As a result, many researchers in industry and in academia now come into contact with AES and XPS not as specialists, but as users.
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Zustand: New. A self-contained book on electron microscopy and spectrometry techniques for surface studies. Num Pages: 458 pages, 224 b/w illus. 10 tables. BIC Classification: PHK; TGM. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 247 x 174 x 25. Weight in Grams: 1097. . 1996. hardcover. . . . . Books ship from the US and… Ireland.
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Hardcover. Zustand: Brand New. 436 pages. 10.25x7.25x1.00 inches. In Stock.
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Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - In this book the theories, techniques and applications of reflection electron microscopy (REM), reflection high-energy electron diffraction (RHEED) and reflection electron energy-loss spectroscopy (REELS) are comprehensively reviewed for the first time. The… book is divided into three parts: diffraction, imaging and spectroscopy. The text is written to combine basic techniques with special applications, theories with experiments, and the basic physics with materials science, so that a full picture of RHEED and REM emerges. An entirely self-contained study, the book contains much invaluable reference material, including FORTRAN source codes for calculating crystal structures data and electron energy loss spectra in different scattering geometries. This and many other features make the book an important and timely addition to the materials science literature.
Verlag: Published by Cambridge at the University Press First Edition . London 1996., 1996
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In den WarenkorbZustand: Fine. First edition hard back binding in publisher's original black paper covers, gilt title and author lettering to the spine. Quarto 10'' x 7''. Contains [xix] 436 printed pages of text with monochrome illustrations and photographs throughout. Fine condition book in Fine condition dust wrapper. Dust wrapper supplied i…n archive acetate film protection, this preserves and prolongs the life of the paper, it is not adhered to the book or to the dust wrapper. Member of the P.B.F.A. ISBN 0521482666 MICROBIOLOGICAL.
