Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Anbieter: books4less (Versandantiquariat Petra Gros GmbH & Co. KG), Welling, Deutschland
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In den Warenkorbgebundene Ausgabe. Zustand: Gut. 549 Seiten Der Erhaltungszustand des hier angebotenen Werks ist trotz seiner Bibliotheksnutzung sehr sauber und kann entsprechende Merkmale aufweisen (Rückenschild, Instituts-Stempel.). In ENGLISCHER Sprache. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 990.
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
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In den WarenkorbTaschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Zeitschrift für Kristallographie. Supplement Volume 27 presents the complete Proceedings of all contributions to the V Size Strain Conference in Garmisch-Partenkirchen 2007: Lattice Defects Residual Stresses Texture in Thin Films and at Surfaces Line-Broadening Analysis and Line-Profile Fitting Diffraction/Microstructure Modeling Supplement Series of Zeitschrift für Kristallographie publishes Proceedings and Abstracts of international conferences on the interdisciplinary field of crystallography.
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbZustand: New. In.
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 317 pages. 8.27x5.83x0.67 inches. In Stock.
Verlag: Springer Berlin Heidelberg, 2003
ISBN 10: 3540405194 ISBN 13: 9783540405191
Sprache: Englisch
Anbieter: moluna, Greven, Deutschland
EUR 227,74
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In den WarenkorbZustand: New. The diffraction analysis is a powerful tool to characterize the microstructure, dislocations, interfaces and surfaces of microstructured materials and thin films. This book presents the method, theory and application of diffraction analysisOve.
Verlag: Springer Berlin Heidelberg, 2010
ISBN 10: 3642073522 ISBN 13: 9783642073526
Sprache: Englisch
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
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In den WarenkorbTaschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Diffraction Analysis of the Microstructure of Materials provides an overview of diffraction methods applied to the analysis of the microstructure of materials. Since crystallite size and the presence of lattice defects have a decisive influence on the properties of many engineering materials, information about this microstructure is of vital importance in developing and assessing materials for practical applications. The most powerful and usually non-destructive evaluation techniques available are X-ray and neutron diffraction. The book details, among other things, diffraction-line broadening methods for determining crystallite size and atomic-scale strain due, e.g. to dislocations, and methods for the analysis of residual (macroscale) stress. The book assumes only a basic knowledge of solid-state physics andsupplies readers sufficient information to apply the methods themselves.
Verlag: Springer, Berlin, Springer Berlin Heidelberg, Springer, 2003
ISBN 10: 3540405194 ISBN 13: 9783540405191
Sprache: Englisch
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
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In den WarenkorbBuch. Zustand: Neu. Neuware - Diffraction Analysis of the Microstructure of Materials provides an overview of diffraction methods applied to the analysis of the microstructure of materials. Since crystallite size and the presence of lattice defects have a decisive influence on the properties of many engineering materials, information about this microstructure is of vital importance in developing and assessing materials for practical applications. The most powerful and usually non-destructive evaluation techniques available are X-ray and neutron diffraction. The book details, among other things, diffraction-line broadening methods for determining crystallite size and atomic-scale strain due, e.g. to dislocations, and methods for the analysis of residual (macroscale) stress. The book assumes only a basic knowledge of solid-state physics andsupplies readers sufficient information to apply the methods themselves.