Defect microstructure analysis diffraction von snyder bunge (2 Ergebnisse)
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Zustand: New. Examines the state of the art for determining the "real" structure of matter. This book provides an analysis of the fundamental theory and techniques for microstructure analysis from diffraction patterns. It presents the principal characterization technique permitting us to measure the defect solid state: X-ray dif…fraction. Editor(s): Snyder, Robert; Fiala, Jaroslav; Bunge, Hans J. Series: International Union of Crystallography - Monographs on Crystallography. Num Pages: 808 pages, numerous line figures. BIC Classification: PNT. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 238 x 164 x 49. Weight in Grams: 1292. . 2000. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
