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Computed Electron Micrographs and Defect Identification (Defects in Crystalline Solids S.)
Verlag: Elsevier Science Publishing Co Inc.,U.S., 1973
ISBN 10: 0720417570 ISBN 13: 9780720417579
Sprache: Englisch
Anbieter: Anybook.com, Lincoln, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 8,61
EUR 14,72 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbZustand: Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In good all round condition. No dust jacket. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,1000grams, ISBN:0720417570.
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Computed Electron Micrographs and Defect Indentification
Anbieter: Better World Books Ltd, Dunfermline, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 23,73
EUR 9,10 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbZustand: Good. Ships from the UK. Used book that is in clean, average condition without any missing pages.
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Computed Electron Micrographs and Defect Identification
Verlag: Elsevier Science Publishing Co Inc.,U.S., 1973
ISBN 10: 0720417570 ISBN 13: 9780720417579
Sprache: Englisch
SonderangebotEUR 12,55
EUR 22,50 für den Versand von Frankreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Bon. Edition 1973. Ammareal reverse jusqu'à 15% du prix net de cet article à des organisations caritatives. ENGLISH DESCRIPTION Book Condition: Used, Good. Edition 1973. Ammareal gives back up to 15% of this item's net price to charity organizations.
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Computed Electron Micrographs and Defect Identification (Volume 7)
Verlag: North Holland Publishing Company, 1973
ISBN 10: 0720417570 ISBN 13: 9780720417579
Sprache: Englisch
Anbieter: Anybook.com, Lincoln, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 24,55
EUR 14,72 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbZustand: Fair. Volume 7. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. Clean from markings. In fair condition, suitable as a study copy. No dust jacket. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,1000grams, ISBN:0720417570.
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Computed Electron Micrographs and Defect Identification (Defects in Crystalline Solids)
Verlag: North-Holland Publishing Company, 1973
ISBN 10: 0720417570 ISBN 13: 9780720417579
Sprache: Englisch
Anbieter: MB Books, Derbyshire, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 16,40
EUR 22,75 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Good. No Jacket. Condition : Good. Hard cover, no jacket. Former university library copy with associated markings. 400pp. No annotations or highlighting. Covered in protective laminate. Minor shelf wear. Photo on request.
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Sonderangebot
EUR 22,49
EUR 22,50 für den Versand von Frankreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Bon. Ancien livre de bibliothèque. Edition 1973. Tome 7. Ammareal reverse jusqu'à 15% du prix net de cet article à des organisations caritatives. ENGLISH DESCRIPTION Book Condition: Used, Good. Former library book. Edition 1973. Volume 7. Ammareal gives back up to 15% of this item's net price to charity organizations.
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Computed Electron Micrographs and Defect Identification, Volume 7
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 87,95
EUR 14,22 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 412 pages. 9.00x6.00x0.93 inches. In Stock.
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Computed electron micrographs and defect identification.
Verlag: Amsterdam, North-Holland Publ. Comp. 1973., 1973
Anbieter: Antiquariat Löcker, Wien, Österreich
Verbandsmitglied: GIAQ ILAB VDA VDAO
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
In Englisch. gr.-8°, 400 S., mit zahlr. Textabb., OLn. m. Klarsichtfolien-Überzug, guter Zustand, ausgeschied. Bibl.-Expl. mit den üblichen Kennzeichnungen. ISBN 0-720417570.
