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The BUGBOOK 1. Logic & Memory Experiments. Using TTL Itegrated Circuits.
Sprache: Deutsch
Verlag: E&L Instruments INC:, 1974
Anbieter: NEPO UG, Rüsselsheim am Main, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Softcover/Paperback. Zustand: Gut. Sofort verfügbar Versand am folgenden Arbeitstag mit Rechnung daily shipping wordwide with invoice ex library aus Bibliothek Sprache: Deutsch Gewicht in Gramm: 550.
