Atom probe microscopy von gault baptiste (5 Ergebnisse)

Autor
Titel
Mit der Detailsuche verfeinern

Optimieren Sie Ihre Suche

  • Bücher (5)

  • Neu (5)

bis

Benutzerdefinierte Preisspanne (EUR)

bis

    • Sprache: Englisch

      Verlag: Springer, 2014

      1489989390 / 9781489989390

      Serie: Buch 39 von 233 - Springer Series in Materials Science

      • Softcover

      Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections

      Verkäufer/-in mit 5 Sternen
      Verkäufer/-in kontaktieren

      Zustand: Neu

      EUR 251,66

      EUR 13,17 Versand 
      Versand von Vereinigtes Königreich nach USA

      Anzahl: Mehr als 20 verfügbar

      Zustand: New. In.

    • Sprache: Englisch

      Verlag: Springer New York, 2014

      1489989390 / 9781489989390

      Serie: Buch 39 von 233 - Springer Series in Materials Science

      • Softcover

      Anbieter: moluna, Greven, Deutschlandmoluna

      Verkäufer/-in mit 5 Sternen
      Verkäufer/-in kontaktieren

      Zustand: Neu

      EUR 250,30

      EUR 48,99 Versand 
      Versand von Deutschland nach USA

      Anzahl: Mehr als 20 verfügbar

      Zustand: New.

    • Sprache: Englisch

      Verlag: Springer New York, 2012

      1461434351 / 9781461434351

      Serie: Buch 39 von 233 - Springer Series in Materials Science

      • Hardcover

      Anbieter: moluna, Greven, Deutschlandmoluna

      Verkäufer/-in mit 5 Sternen
      Verkäufer/-in kontaktieren

      Zustand: Neu

      EUR 250,30

      EUR 48,99 Versand 
      Versand von Deutschland nach USA

      Anzahl: Mehr als 20 verfügbar

      Gebunden. Zustand: New.

    • Weitere Bilder

      Sprache: Englisch

      Verlag: Springer, 2014

      1489989390 / 9781489989390

      Serie: Buch 39 von 233 - Springer Series in Materials Science

      • Softcover

      Anbieter: preigu, Osnabrück, Deutschlandpreigu

      Verkäufer/-in mit 5 Sternen
      Verkäufer/-in kontaktieren

      Zustand: Neu

      EUR 256,70

      EUR 70,00 Versand 
      Versand von Deutschland nach USA

      Anzahl: 5 verfügbar

      Taschenbuch. Zustand: Neu. Atom Probe Microscopy | Baptiste Gault (u. a.) | Taschenbuch | Springer Series in Materials Science | xxiv | Englisch | 2014 | Springer | EAN 9781489989390 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.

    • Sprache: Englisch

      Verlag: Springer, 2014

      1489989390 / 9781489989390

      Serie: Buch 39 von 233 - Springer Series in Materials Science

      • Softcover

      Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH

      Verkäufer/-in mit 5 Sternen
      Verkäufer/-in kontaktieren

      Zustand: Neu

      EUR 414,44

      EUR 30,50 Versand 
      Versand von Deutschland nach USA

      Anzahl: 1 verfügbar

      Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Atom probe microscopy enables the characterization of materials structure and chemistry in three dimensions with near-atomic resolution. This uniquely powerful technique has been subject to major instrumental advances over the last decade with the development of wide-field-of-view detectors and pulsed-laser-assisted evaporation that have significantly enhanced the instrument's capabilities. The field is flourishing, and atom probe microscopy is being embraced as a mainstream characterization technique. This book covers all facets of atom probe microscopy-including field ion microscopy, field desorption microscopy and a strong emphasis on atom probe tomography.Atom Probe Microscopy is aimed at researchers of all experience levels. It will provide the beginner with the theoretical background and practical information necessary to investigate how materials work using atom probe microscopy techniques. This includes detailed explanations of the fundamentals and the instrumentation, contemporary specimen preparation techniques, experimental details, and an overview of the results that can be obtained. The book emphasizes processes for assessing data quality, and the proper implementation of advanced data mining algorithms. Those more experienced in the technique will benefit from the book as a single comprehensive source of indispensable reference information, tables and techniques. Both beginner and expert will value the way that Atom Probe Microscopy is set out in the context of materials science and engineering, and includes references to key recent research outcomes.