Advanced vlsi design testability (9 Ergebnisse)

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Advanced Vlsi Design and Testability Issues
Tripathi, Suman Lata (Editor)/ Saxena, Sobhit (Editor)/ Mohapatra, Sushanta Kumar (Editor)
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Advanced VLSI Design and Testability Issues | Suman Lata Tripathi (u. a.) | Taschenbuch | Einband - flex.(Paperback) | Englisch | 2022 | CRC Press | EAN 9780367538361 | Verantwortliche Person für die EU: Libri GmbH, Europaallee 1, 36244 Bad Hersfeld, gpsr[at]libri[dot]de | Anbieter: preigu.

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Advanced Vlsi Design and Testability Issues
Tripathi, Suman Lata (Editor)/ Saxena, Sobhit (Editor)/ Mohapatra, Sushanta Kumar (Editor)
- Hardcover
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes KönigreichRevaluation Books
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Hardcover. Zustand: Brand New. 359 pages. 9.50x6.25x1.00 inches. In Stock.

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