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Scanning Transmission Electron Microscopy: Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 65,02
EUR 7,54 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 3 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Advanced Texts in Physics)
Anbieter: Studibuch, Stuttgart, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
hardcover. Zustand: Befriedigend. 767 Seiten; 9783540678410.4 Gewicht in Gramm: 2.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Advanced Texts in Physics)
Anbieter: Studibuch, Stuttgart, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
hardcover. Zustand: Gut. 767 Seiten; 9783540678410.3 Gewicht in Gramm: 2.
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A Practical Guide to Transmission Electron Microscopy: Advanced Microscopy: Vol 2
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 68,07
EUR 11,59 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 178 pages. 9.00x6.00x0.73 inches. In Stock.
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Scanning Transmission Electron Microscopy: Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 73,05
EUR 13,89 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. In.
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A Practical Guide to Transmission Electron Microscopy, Volume II: Advanced Microscopy
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 83,91
EUR 13,89 Versand
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In den WarenkorbZustand: New. In.
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Scanning Transmission Electron Microscopy: Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 92,67
EUR 11,59 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 164 pages. 9.18x6.12x9.21 inches. In Stock.
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A Practical Guide to Transmission Electron Microscopy, Volume II: Advanced Microscopy (Materials Characterization and Analysis Collection)
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. 2015. paperback. . . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Advanced Transmission Electron Microscopy: Applications to Nanomaterials
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 115,69
EUR 13,89 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. In.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. A Practical Guide to Transmission Electron Microscopy, Volume II | Advanced Microscopy | Zhiping Luo | Taschenbuch | Einband - flex.(Paperback) | Englisch | 2015 | Momentum Press | EAN 9781606509173 | Verantwortliche Person für die EU: Mare Nostrum Group B.V., Doelen 72, 4831 GR BREDA, NIEDERLANDE, gpsr[at]mare-nostrum[dot]co[dot]uk | Anbieter: preigu.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Advanced Transmission Electron Microscopy | Imaging and Diffraction in Nanoscience | Jian Min Zuo (u. a.) | Taschenbuch | xxvi | Englisch | 2018 | Springer | EAN 9781493982493 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Advanced Transmission Electron Microscopy: Applications for Nanomaterials
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 156,53
EUR 14,49 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 2015 edition. 286 pages. 9.75x6.75x0.75 inches. In Stock.
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Scanning Transmission Electron Microscopy: Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 164,27
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In den WarenkorbZustand: New.
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Advanced Transmission Electron Microscopy : Imaging and Diffraction in Nanoscience
Sprache: Englisch
Verlag: Springer New York, Springer US, 2018
ISBN 10: 1493982494 ISBN 13: 9781493982493
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This volume expands and updates the coverage in the authors' popular 1992 book, Electron Microdiffraction. As the title implies, the focus of the book has changed from electron microdiffraction and convergent beam electron diffraction to all forms of advanced transmission electron microscopy. Special attention is given to electron diffraction and imaging, including high-resolution TEM and STEM imaging, and the application of these methods to crystals, their defects, and nanostructures. The authoritative text summarizes and develops most of the useful knowledge which has been gained over the years from the study of the multiple electron scattering problem, the recent development of aberration correctors and their applications to materials structure characterization, as well as the authors' extensive teaching experience in these areas. Advanced Transmission Electron Microscopy: Imaging and Diffraction in Nanoscience is ideal for use as an advanced undergraduate or graduatelevel text in support of course materials in Materials Science, Physics or Chemistry departments.
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Advanced Transmission Electron Microscopy : Applications to Nanomaterials
Sprache: Englisch
Verlag: Springer International Publishing, 2016
ISBN 10: 3319382896 ISBN 13: 9783319382890
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book highlights the current understanding of materials in the context of new and continuously emerging techniques in the field of electron microscopy. The authors present applications of electron microscopic techniques in characterizing various well-known & new nanomaterials. The applications described include both inorganic nanomaterials as well as organic nanomaterials.
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Advanced Transmission Electron Microscopy : Applications to Nanomaterials
Sprache: Englisch
Verlag: Springer International Publishing, Springer International Publishing, 2015
ISBN 10: 3319151762 ISBN 13: 9783319151762
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book highlights the current understanding of materials in the context of new and continuously emerging techniques in the field of electron microscopy. The authors present applications of electron microscopic techniques in characterizing various well-known & new nanomaterials. The applications described include both inorganic nanomaterials as well as organic nanomaterials.
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Scanning Transmission Electron Microscopy: Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 177,59
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Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. In.
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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 284 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This book highlights the current understanding of materials in the context of new and continuously emerging techniques in the field of electron microscopy. The authors present applications of electron microscopic techniques in characterizing various well-known & new nanomaterials. The applications described include both inorganic nanomaterials as well as organic nanomaterials.
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Advanced Transmission Electron Microscopy: Applications to Nanomaterials
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 163,51
EUR 34,78 Versand
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. reprint edition. 284 pages. 9.25x6.10x0.67 inches. In Stock.
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Advanced Transmission Electron Microscopy : Imaging and Diffraction in Nanoscience
Sprache: Englisch
Verlag: Springer New York, Springer US, 2016
ISBN 10: 1493966057 ISBN 13: 9781493966059
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This volume expands and updates the coverage in the authors' popular 1992 book, Electron Microdiffraction. As the title implies, the focus of the book has changed from electron microdiffraction and convergent beam electron diffraction to all forms of advanced transmission electron microscopy. Special attention is given to electron diffraction and imaging, including high-resolution TEM and STEM imaging, and the application of these methods to crystals, their defects, and nanostructures. The authoritative text summarizes and develops most of the useful knowledge which has been gained over the years from the study of the multiple electron scattering problem, the recent development of aberration correctors and their applications to materials structure characterization, as well as the authors' extensive teaching experience in these areas. Advanced Transmission Electron Microscopy: Imaging and Diffraction in Nanoscience is ideal for use as an advanced undergraduate or graduatelevel text in support of course materials in Materials Science, Physics or Chemistry departments.
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Scanning Transmission Electron Microscopy: Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 229,74
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Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 149 pages. 9.50x6.25x0.75 inches. In Stock.
