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9788770043564 - On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the MM-Wave Range and Beyond von Rumiantsev, Andrej (3 Ergebnisse)
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On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the mm-Wave Range and Beyond
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the MM-Wave Range and Beyond
Sprache: Englisch
Verlag: River Publishers Okt 2024, 2024
ISBN 10: 8770043566 ISBN 13: 9788770043564
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Neuware - This book presents solutions for accurate mm-wave characterization of advanced semiconductor devices. It guides through the process of development, implementation and verification of the in-situ calibration methods optimized for high-performance silicon technologies.
