ISBN: 9786138834304 - efficient test data compression and fault analysis in vlsi circuits: test data compression and decompression using efficient bitmask and dictionary selection method (1 Ergebnisse)

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Efficient Test Data Compression and Fault Analysis in VLSI Circuits | Test Data Compression and Decompression Using Efficient Bitmask and Dictionary Selection Method
Sivaganesan Subramaniam
Sprache: Englisch
Verlag: Scholars' Press, 2019
6138834305 / 9786138834304
- Softcover
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Efficient Test Data Compression and Fault Analysis in VLSI Circuits | Test Data Compression and Decompression Using Efficient Bitmask and Dictionary Selection Method | Sivaganesan Subramaniam | Taschenbuch | 84 S. | Englisch | 2019 | Scholars' Press | EAN 9786138834304 | Verantwortliche Person für die EU: preigu GmbH & Co. KG, Lengericher Landstr. 19, 49078 Osnabrück, mail[at]preigu[dot]de | Anbieter: preigu.…