9783845412924 - electromigration in cu interconnects: the driving force formalism: modeling and experiment von roy, dr. arijit (1 Ergebnisse)

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Taschenbuch. Zustand: Neu. Electromigration in Cu Interconnects | The Driving Force Formalism: Modeling and Experiment | Arijit Roy | Taschenbuch | 144 S. | Englisch | 2011 | LAP LAMBERT Academic Publishing | EAN 9783845412924 | Verantwortliche Person für die EU: preigu GmbH & Co. KG, Lengericher Landstr. 19, 49078 Osnabrück, ma…il[at]preigu[dot]de | Anbieter: preigu.