Isbn: 9783844332636 - an improved markov random field design approach for digital circuits: introducing fault-tolerance with higher noise-immunity for the nano-circuits as compared to cmos and mrf designs (1 Ergebnisse)

ISBN:

Mit der Detailsuche verfeinern

An Improved Markov Random Field Design Approach For Digital Circuits | Introducing Fault-Tolerance With Higher Noise-Immunity For The Nano-Circuits As Compared To CMOS And MRF Designs
Jahanzeb Anwer (u. a.)
Sprache: Englisch
Verlag: LAP LAMBERT Academic Publishing, 2011
3844332634 / 9783844332636
- Softcover
Anbieter: preigu, Osnabrück, Deutschlandpreigu
Verkäufer/-in mit 5 Sternen
Verkäufer/-in kontaktieren
Zustand: Neu
EUR 43,40
EUR 70,00 Versand
Versand von Deutschland nach USA
Anzahl: 5 verfügbar
Taschenbuch. Zustand: Neu. An Improved Markov Random Field Design Approach For Digital Circuits | Introducing Fault-Tolerance With Higher Noise-Immunity For The Nano-Circuits As Compared To CMOS And MRF Designs | Jahanzeb Anwer (u. a.) | Taschenbuch | 88 S. | Englisch | 2011 | LAP LAMBERT Academic Publishing | EAN 9783844332636 | Verantwortliche Person für die EU: preigu GmbH & Co. KG, Lengericher Landstr. 19, 49078 Osnabrück, mail[at]preigu[dot]de | Anbieter: preigu.…