ISBN: 9783838152684 - electron impact ionization and high-resolution electron attachment: studies of relaxation mechanisms in argon dimers upon electron impact and electron attachment to doped helium droplets (1 Ergebnisse)
Sprache: Englisch
Verlag: Südwestdeutscher Verlag für Hochschulschriften, 2016
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Electron Impact Ionization and High-Resolution Electron Attachment | Studies of Relaxation Mechanisms in Argon Dimers Upon Electron Impact and Electron Attachment to Doped Helium Droplets | Elias Jabbour Al Maalouf | Taschenbuch | 220 S. | Englisch | 2016 | Südwestdeutscher Verlag für Hochschulschriften | EAN 9783838152684 | Verantwortliche Person für die EU: preigu GmbH & Co. KG, Lengericher Landstr. 19, 49078 Osnabrück, mail[at]preigu[dot]de | Anbieter: preigu.…
