Isbn: 9783659628436 - electron beam induced mass loss of sensitive materials: low voltage scanning transmission electron microscopy (2 Ergebnisse)
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Electron Beam Induced Mass Loss of Sensitive Materials | Low Voltage Scanning Transmission Electron Microscopy | Veronika Novotná | Taschenbuch | 128 S. | Englisch | 2014 | LAP LAMBERT Academic Publishing | EAN 9783659628436 | Verantwortliche Person für die EU: preigu GmbH & Co. KG, Lengericher Landstr. 19, 49078 Osnabrück, mail[at]preigu[dot]de | Anbieter: preigu.…
