Isbn: 9783659134821 - labview run four point probe device: electrical characterization of semiconducting thin films made easy by four point probe system controlled by labview (1 Ergebnisse)

ISBN:

Mit der Detailsuche verfeinern

LabVIEW Run Four Point Probe Device | Electrical Characterization of Semiconducting Thin Films made easy by Four Point Probe System controlled by LabVIEW
John Agumba (u. a.)
Sprache: Englisch
Verlag: LAP LAMBERT Academic Publishing, 2012
3659134821 / 9783659134821
- Softcover
Anbieter: preigu, Osnabrück, Deutschlandpreigu
Verkäufer/-in mit 5 Sternen
Verkäufer/-in kontaktieren
Zustand: Neu
EUR 236,00
EUR 70,00 Versand
Versand von Deutschland nach USA
Anzahl: 5 verfügbar
Taschenbuch. Zustand: Neu. LabVIEW Run Four Point Probe Device | Electrical Characterization of Semiconducting Thin Films made easy by Four Point Probe System controlled by LabVIEW | John Agumba (u. a.) | Taschenbuch | 140 S. | Englisch | 2012 | LAP LAMBERT Academic Publishing | EAN 9783659134821 | Verantwortliche Person für die EU: preigu GmbH & Co. KG, Lengericher Landstr. 19, 49078 Osnabrück, mail[at]preigu[dot]de | Anbieter: preigu.…