9783659134821 - labview run four point probe device: electrical characterization of semiconducting thin films made easy by four point probe system controlled by labview von agumba, john; karimi, patrick; okumu, john (1 Ergebnisse)
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Taschenbuch. Zustand: Neu. LabVIEW Run Four Point Probe Device | Electrical Characterization of Semiconducting Thin Films made easy by Four Point Probe System controlled by LabVIEW | John Agumba (u. a.) | Taschenbuch | 140 S. | Englisch | 2012 | LAP LAMBERT Academic Publishing | EAN 9783659134821 | Verantwortliche Person für die… EU: preigu GmbH & Co. KG, Lengericher Landstr. 19, 49078 Osnabrück, mail[at]preigu[dot]de | Anbieter: preigu.
