Isbn: 9783642821684 - multiple diffraction of x-rays in crystals (springer series in solid-state sciences, band 50) (3 Ergebnisse)

ISBN: 
Mit der Detailsuche verfeinern

Optimieren Sie Ihre Suche

  • Bücher (3)

  • Neu (3)

bis

Benutzerdefinierte Preisspanne (EUR)

bis

  • Sprache: Englisch

    Verlag: Springer, 2011

    3642821685 / 9783642821684

    • Softcover

    Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections

    Verkäufer/-in mit 5 Sternen
    Verkäufer/-in kontaktieren

    Zustand: Neu

    EUR 67,00

    EUR 13,13 Versand 
    Versand von Vereinigtes Königreich nach USA

    Anzahl: Mehr als 20 verfügbar

    Zustand: New. In English.

  • Sprache: Englisch

    Verlag: Springer-Verlag, 2011

    3642821685 / 9783642821684

    • Softcover

    Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes KönigreichRevaluation Books

    Verkäufer/-in mit 5 Sternen
    Verkäufer/-in kontaktieren

    Zustand: Neu

    EUR 80,46

    EUR 11,63 Versand 
    Versand von Vereinigtes Königreich nach USA

    Anzahl: 2 verfügbar

    Paperback. Zustand: Brand New. reprint edition. 311 pages. 9.20x6.10x0.70 inches. In Stock.

  • Sprache: Englisch

    Verlag: Springer Vieweg, 2011

    3642821685 / 9783642821684

    • Softcover

    Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH

    Verkäufer/-in mit 5 Sternen
    Verkäufer/-in kontaktieren

    Zustand: Neu

    EUR 61,97

    EUR 35,00 Versand 
    Versand von Deutschland nach USA

    Anzahl: 1 verfügbar

    Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The three-dimensional arrangement of atoms and molecules in crystals and the comparable magnitude of x-ray wavelengths and interatomic distances make it possible for crystals to have more than one set of atomic planes that satisfy Bragg's law and simultaneously diffract an incident x-ray beam - this is the so-called multiple diffraction. This type of diffraction should, in prin ciple, reflect three-dimensional information about the structure of the dif fracting material. Recent progress in understanding this diffraction phenome non and in utilizing this diffraction technique in solid-state and materials sciences reveals the diversity as well as the importance of multiple diffraction of x-rays in application. Unfortunately, there has been no single book written that gives a sys tematic review of this type of diffraction, encompasses its diverse applica tions, and foresees future trends gf development. It is for this purpose that this book is designed. It is hoped that its appearance may possibly turn more attention of condensed-matter physicists, chemists and material scientists toward this particular phenomenon, and that new methods of non-destructive analysis of matter using this diffraction technique may be developed in the future.…