Isbn: 9783642149795 - structural, syntactic, and statistical pattern recognition: joint iapr international workshop, sspr & spr 2010, cesme, izmir, turkey, august 18-20, ... notes in computer science, 6218, band 6218) (2 Ergebnisse)

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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint Iapr International Workshop, Sspr & Spr 2010, Cesme, Izmir, Turkey, August 18-20, 2010, Proceedings
Hancock, Edwin R. (Editor)
Sprache: Englisch
Verlag: Springer-Verlag New York Inc, 2010
3642149790 / 9783642149795
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint IAPR International Workshop, SSPR & SPR 2010, Cesme, Izmir, Turkey, August 18-20, . 6218 (Lecture Notes in Computer Science)
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2010
3642149790 / 9783642149795
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