9783642149795 - structural, syntactic, and statistical pattern recognition: joint iapr international workshop, sspr & spr 2010, cesme, izmir, turkey, august 18-20, ... notes in computer science, 6218, band 6218) (2 Ergebnisse)

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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint Iapr International Workshop, Sspr & Spr 2010, Cesme, Izmir, Turkey, August 18-20, 2010, Proceedings
Hancock, Edwin R. (Editor)
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint IAPR International Workshop, SSPR & SPR 2010, Cesme, Izmir, Turkey, August 18-20, 2010. Proceedings
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer-Verlag GmbH, 2010
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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 758 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.