Isbn: 9783642084034 - positron annihilation in semiconductors: defect studies (springer series in solid-state sciences, band 127) (3 Ergebnisse)

- Softcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 227,13
EUR 13,17 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New. In English.
Weitere Bilder- Softcover
Anbieter: preigu, Osnabrück, Deutschlandpreigu
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 184,95
EUR 70,00 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 5 verfügbar
Taschenbuch. Zustand: Neu. Positron Annihilation in Semiconductors | Defect Studies | Reinhard Krause-Rehberg (u. a.) | Taschenbuch | Springer Series in Solid-State Sciences | xv | Englisch | 2010 | Springer | EAN 9783642084034 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu. …

- Softcover
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 297,68
EUR 30,50 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 1 verfügbar
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The subject of this book is the investigation of lattice imperfections in semiconductors by means of positron annihilation. A comprehensive review is given of the different positron techniques, whose application to various kinds of defects, e.g. vacancies, impurity-vacancy complexes and dislocations, is described. The sensitivity range of positron annihilation with respect to the detection of these defects is compared to that of other defect-sensitive methods. The most prominent results obtained with positrons in practically all important semiconductors are reviewed. A special chapter of the book deals with positron annihilation as a promising tool for many technological purposes. The theoretical background necessary to understand the experimental results is explained in detail.…