9783540639763 - scanning electron microscopy: physics of image formation and microanalysis (springer series in optical sciences, 45, band 45) von reimer, ludwig (3 Ergebnisse)
Sprache: Englisch
Verlag: Berlin ; Heidelberg ; Tokyo ; New York ; Barcelona ; Budapest ; Hong Kong ; London ; Milan ; Paris ; Singapore : Springer, 1998
Serie: Springer Series in Optical Sciences, Buch 56 von 235. Buch 56 von 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Sprache: Englisch
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Zustand: Gut. Zustand: Gut | Seiten: 544 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced cu…rrents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.
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Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-r…ay and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.
